TY  - RPRT
TI  - X-ray reflection from rough layered systems.
AU  - V Hol
AU  - J Kubena
AU  - I Ohlídal
AU  - K Lischka
AU  - W Plotz
PY  - 1993
DO  - 10.1103/physrevb.47.15896
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/10005989/
ID  - 10005989
ER  -