TY  - RPRT
TI  - Type-I intermittency in semiconductor breakdown: An experimental confirmation.
AU  - R Richter
AU  - A Kittel
AU  - G Heinz
AU  - G Flätgen
AU  - J Peinke
AU  - J Parisi
PY  - 1994
DO  - 10.1103/physrevb.49.8738
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/10009653/
ID  - 10009653
ER  -