TY  - RPRT
TI  - Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction.
AU  - C Trager-Cowan
AU  - F Sweeney
AU  - J Hastie
AU  - S K Manson-Smith
AU  - D A Cowan
AU  - D McColl
AU  - A Mohammed
AU  - K P O'Donnell
AU  - D Zubia
AU  - S D Hersee
AU  - C T Foxon
AU  - I Harrison
AU  - S V Novikov
PY  - 2002
DO  - 10.1046/j.1365-2818.2002.00996.x
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/11996185/
ID  - 11996185
ER  -