TY  - RPRT
TI  - New methods for semiconductor charge-diffusion-length measurements using synchrotron radiation.
AU  - J Kohagura
AU  - T Cho
AU  - M Hirata
AU  - T Okamura
AU  - T Tamano
AU  - K Yatsu
AU  - S Miyoshi
AU  - K Hirano
AU  - H Maezawa
PY  - 1998
DO  - 10.1107/s0909049597017524
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/15263682/
ID  - 15263682
ER  -