TY  - RPRT
TI  - Surface charge compensation for a highly charged ion emission microscope.
AU  - J W McDonald
AU  - A V Hamza
AU  - M W Newman
AU  - J P Holder
AU  - D H G Schneider
AU  - T Schenkel
PY  - 2004
DO  - 10.1016/j.ultramic.2004.06.008
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/15450667/
ID  - 15450667
ER  -