TY  - RPRT
TI  - Electron localization determines defect formation on ceria substrates.
AU  - Friedrich Esch
AU  - Stefano Fabris
AU  - Ling Zhou
AU  - Tiziano Montini
AU  - Cristina Africh
AU  - Paolo Fornasiero
AU  - Giovanni Comelli
AU  - Renzo Rosei
PY  - 2005
DO  - 10.1126/science.1111568
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/16051791/
ID  - 16051791
ER  -