TY  - RPRT
TI  - Device reliability.
AU  - T Mussivand
AU  - W J Keon
AU  - D W Hoeppner
AU  - A A Ciarkowski
AU  - R T Kung
AU  - W J Freeland
AU  - K C Butler
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/8186504/
ID  - 8186504
ER  -