TY  - RPRT
TI  - Surface roughness at the Si(100)-SiO2 interface.
AU  - SM Goodnick
AU  - DK Ferry
AU  - CW Wilmsen
AU  - Z Liliental
AU  - D Fathy
AU  - OL Krivanek
PY  - 1985
DO  - 10.1103/physrevb.32.8171
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9936996/
ID  - 9936996
ER  -