TY  - RPRT
TI  - Atomic-force microscopy on the Si(111)7 x 7 surface.
AU  - L Howald
AU  - R Lüthi
AU  - E Meyer
AU  - H Güntherodt
PY  - 1995
DO  - 10.1103/physrevb.51.5484
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9979438/
ID  - 9979438
ER  -