TY  - RPRT
TI  - Microvoids at the SiO2/Si interface.
AU  - B Nielsen
AU  - KG Lynn
AU  - DO Welch
AU  - TC Leung
AU  - GW Rubloff
PY  - 1989
DO  - 10.1103/physrevb.40.1434
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9991995/
ID  - 9991995
ER  -