TY  - RPRT
TI  - Surface kinetics and roughness on microstructure formation in thin films.
AU  - SM Paik
AU  - S Kim
AU  - IK Schuller
AU  - R Ramirez
PY  - 1991
DO  - 10.1103/physrevb.43.1843
UR  - https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9997447/
ID  - 9997447
ER  -